프로세스의 견고성과 신뢰성을 향상시키는 CGD의 독보적인 2D 바코드

CGD는 웨이퍼 상의 IC 제조 위치를 식별할 수 있도록 상용 코드 리더기로 판독할 수 있는 2D 바코드를 최초로 각 GaN 칩 상에 통합했다.

친환경 전자제품을 위한 에너지 효율적인 GaN 기반 전력 디바이스 제품군을 개발하고 있는 팹리스, 청정 반도체 기술 기업인 CGD(Cambridge GaN Devices)는 표준 상용 코드 리더기로 판독할 수 있는 2D 바코드를 업계 최초로 각각의 GaN IC에 통합함으로써 또 다른 혁신의 이정표를 수립했다. 이를 통해 CGD는 패키징된 디바이스를 스캔하여 회로와 배치를 식별하는 것은 물론, 각 개별 다이가 만들어진 웨이퍼의 위치를 정확하게 파악할 수 있게 되었다. 이는 프로세스의 견고성과 신뢰성에 관한 중요 데이터를 제공할 수 있는 매우 의미 있는 성과이다.

CGD의 자히드 안사리(Zahid Ansari) 부사장은 “우리는 프로세스에 대한 완벽한 소유권을 확보하고, 신뢰성 문제를 해결하기 위해 패키징 팀과 협력하여 각각의 2D 바코드를 통합할 수 있도록 설계했다. 예를 들어, 웨이퍼 가장자리가 수율이 가장 낮다는 사실 외에도, 웨이퍼 위치에 따라 디바이스 성능에 어떠한 영향을 미치는지 파악할 수 있게 되었다. 이러한 정보는 파운드리에 피드백되어 지속적으로 제조 프로세스를 개선할 수 있다.”고 말했다.

이와 함께 “저렴한 상용 바코드 리더기를 사용하여 디바이스를 즉시 식별할 수 있게 됨으로써 위조방지 조치를 강화하는데 크게 기여할 수 있으며, 이는 첨단 분야에서 활동하는 기업들에게 상당히 의미 있는 일이 될 것이다.”고 덧붙였다.

CGD의 조르지오 롱고바르디(Giorgia Longobardi) CEO는 “CGD의 ICeGaN™ HEMT의 견고성 및 신뢰성을 입증할 수 있는 데이터는 상당히 축적되어 있지만, GaN은 기존의 전력 전자 애플리케이션용 실리콘과 비교하면, 여전히 상대적으로 새로운 기술이다. 2D 바코드를 통합함으로써 제조 공급망에 매우 신속하게 피드백을 제공하고, 이를 통해 파트너십을 더욱 공고히 함으로써 대량생산을 위한 확장에 도움이 될 것으로 기대한다.”고 밝혔다.

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